干簧管寿命及干簧管（磁簧开关）寿命测试
干簧管寿命
干簧管寿命随着切换环境的不同可能存在很大差异。经过多年的发展，干簧开关已作了许多改善，对提高其可靠性起了关键作用。
磁簧开关由于具有密封性能和无易损件，因此可以切换空载或信号负载数十亿次，并且多数情况下接触电阻的变化最小。实际上，接触电阻经常大约下降5至10毫欧。
不同型号的干簧开关，玻璃体长度从7mm至50mm，能切换纳伏至10,000伏电压，电流从飞安至5安，直流至6GHz频率。总的来说，华壬提供应用于传感器或继电器的干簧开关，其触点包括汞触点、钨触点、铑触点、钌触点等等。这些不同的干簧开关与一定的应用相适配。
如果您要优化磁簧开关使用寿命，一定要在实际负载中测试您的电路以取得您所需的寿命。尤其在切换电感、电容或突入电流负载时。
干簧管寿命测试
干簧管寿命检测是一种破坏性试验，通过对磁簧开关进行不同组合的电压、电流和工作频率，以确保产品可靠性。 寿命试验过程中测试的参数是OAT、RAT、以及操作和释放时间。
测量参数
- 测试电流 - 磁簧开关的特定额定电流
- 测试电压 - 磁簧开关的特定额定电流额定电压
- 操作时间- 监控工作时间为1毫秒，2ms的接触
- 发布时间 - 监测1毫秒，1毫秒接触中断
- 工作频率 - 占空比为50％，1至25赫兹标准尺寸的磁簧开关和25至125Hz用于微型磁簧开关
- 接触电阻 - 小于5％的测试负载
- 线圈驱动 - 超载25％
失效准则
- 接触时，接触电阻测试负载超过5％
- 在接触终端时，接触电阻小于500％的测试负载
- 操作过程中"make"或“break”失败
- 磁簧开关焊缝
视窗
在测试环境的建立所需的负载电流和电压，以便干簧管进行连续的“make”和“break”操作。当运行时，额定电流流过的簧片开关进行连接，中断操作发生时的触点是断开的，没有电流流过。通过磁簧开关的断开触点的额定电压在这期间依然存在。
"make"失败能通过监测簧开关的状态识别，线圈通电后2毫秒，连续1毫秒。 如果在1毫秒监视窗口中，舌簧开关的"break"或不能闭合，则它被认为是一个"make"失败。
重复该过程，通过寿命试验，预期的操作数，直至该磁簧开关出现故障。 在此期间的接触电阻监测能够时刻了解干簧管在负载下的实际情况。
具体参数缩写请参看干簧管参数说明。
